玖锦科技硅光晶圆级测试系统亮相中国微波周,赋能1.6T光电融合测试

分类:行业资讯 发布日期:2026-08-11 来源:系统采集

玖锦科技在2026年中国微波周展出硅光晶圆级测试系统,由光波元器件分析仪LCA6000A等设备构成,同轴频率直达110GHz,集成EO/OE/OO/EE四种测量模式,服务于800G/1.6T高速光电通信场景下的硅光晶圆参数测试与性能验证。

来源:玖锦科技 | 时间:2026-05-22
> 2026年中国微波周暨微波毫米波科技成果及产品展在深圳国际会展中心举行。成都玖锦科技有限公司携硅光晶圆级测试系统解决方案及多款高端电子测试测量仪器亮相,全面展示在硅光测试及毫米波太赫兹等领域的前沿技术实力。

硅光晶圆级测试系统:由光波元器件分析仪LCA6000A、探针台、光电模块等设备构成,同轴频率直达110GHz,是一款基于微波光子融合技术的高性能测量系统。一体化集成电-光(EO)、光-电(OE)、光-光(OO)、电-电(EE)四种测量模式,可满足光电融合测试等场景的严苛需求,深度服务于800G/1.6T高速光电通信场景下的硅光晶圆参数测试与性能验证。

多款核心仪器同台亮相:"守仁"系列高速数字实时示波器PDS6184A四通道全开可直达18GHz带宽与80GSa/s高采样率;国内首台基于射频I-V测量法的射频阻抗测试仪LCR1000A;高性能矢量信号分析仪PSA5000A及微波信号发生器ASG3000B,共同构筑宽频段、大带宽、低相噪的产品矩阵。

院士专家关注:会议期间,中国科学院院士毛军发、中国科学院院士洪伟、加拿大皇家科学院和工程院两院院士吴柯等重磅专家陆续莅临展位参观指导,对玖锦科技在硅光测试系统等方面取得的突破性成果给予高度评价。

该系统级解决方案的亮相,标志着玖锦科技在光电测试领域实现了从单一仪器到系统级应用的关键跨越,为国内高速硅光芯片的研发与量产测试注入全新动能。

原文链接:玖锦科技硅光晶圆级测试系统亮相中国微波周


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